EC
Microscopy and nanoscopy
Description
Connaissances des outils modernes de caractérisation et de nanofabrication à différentes échelles. Principes sous-jacents ainsi que leurs utilisations réelles.
Outils modernes de caractérisation et fabrication de nanomatériaux :
- Microscopies à champ proche (STM, AFM, etc)
- Microscopies électroniques (MEB, MET, etc)
- Nanoptiques (SNOM, STED, PALM, etc)
- Outils de nanofabrication (FIB, lithographie à électron, etc.)
Compétences visées
Capacité de caractériser différents matériaux et propriétés physico-chimiques à différentes échelles avec les outils de pointe modernes.
MCC
Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation, disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation
- Régime d'évaluation
- CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)
- Coefficient
- 3.0
Évaluation initiale / Session principale - Épreuves
| Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coefficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Note reportée en session 2 |
|---|---|---|---|---|---|---|
Oral test | CT | EO | 20 | 1.00 |
Seconde chance / Session de rattrapage - Épreuves
| Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coefficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve |
|---|---|---|---|---|---|
Oral test | CT | EO | 20 | 1.00 |