Description
- Présenter les spectroscopies d’électrons pour l’analyse des surfaces : analyse structurale des surfaces (LEED, RHEED), spectroscopies (XPS, AES, EXAFS, EELS, SIMS).
Compétences visées
- Acquérir des connaissances sur les méthodes de caractérisations de surfaces ;
- Etre capable de choisir une méthode adapté à un contexte industriel et un cas donné.
MCC
Les épreuves indiquées respectent et appliquent le règlement de votre formation,
disponible dans l'onglet Documents de la description de la formation
- Régime d'évaluation
- CT (Contrôle terminal, mêlé de contrôle continu)
- Coefficient
- 1.0
Évaluation initiale / Session principale - Épreuves
Libellé | Type d'évaluation | Nature de l'épreuve | Durée (en minutes) | Coefficient de l'épreuve | Note éliminatoire de l'épreuve | Note reportée en session 2 |
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Ecrit | CC | ET | 60 | 1.00 | | |
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